信息概要
稀土金属及其氧化物中非稀土杂质检测依据国家标准GB/T 12690《稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法》,该标准最新版本发布于2015年,替代了2003年版本,现行有效版本未明确废止时间。检测涵盖对稀土产品中多种非稀土元素的定量分析,确保产品纯度符合工业及高科技应用要求。检测项目
铁, 铝, 钙, 镁, 硅, 钠, 钾, 钛, 锰, 铜, 锌, 铅, 镍, 钴, 铬, 钼, 钒, 锡, 锑, 铋, 砷, 镉, 汞, 硫, 磷, 碳, 氮, 氧, 氢
检测范围
金属镧, 金属铈, 金属镨, 金属钕, 金属钐, 金属铕, 金属钆, 金属铽, 金属镝, 金属钬, 金属铒, 金属铥, 金属镱, 金属镥, 金属钇, 金属钪, 氧化镧, 氧化铈, 氧化镨, 氧化钕, 氧化钐, 氧化铕, 氧化钆, 氧化铽, 氧化镝, 氧化钬, 氧化铒, 氧化铥, 氧化镱, 氧化镥, 氧化钇, 氧化钪
检测方法
电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS):用于痕量元素的高灵敏度测定。
原子吸收光谱法(AAS):测定金属元素如铁、铜、锌等含量。
X射线荧光光谱法(XRF):快速筛查多种元素成分。
火花源原子发射光谱法(Spark-AES):分析金属样品中杂质元素。
高频红外碳硫分析仪法:测定碳、硫含量。
惰性气体熔融法:检测氧、氮、氢等气体元素。
分光光度法:用于特定元素(如磷、硅)的比色分析。
离子色谱法(IC):分析阴离子如硫酸根、磷酸根。
滴定法:测定钙、镁等常量元素。
辉光放电质谱法(GD-MS):高纯度材料中痕量杂质检测。
激光诱导击穿光谱法(LIBS):快速表面元素分析。
电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-OES):多元素同时测定。
石墨炉原子吸收光谱法(GF-AAS):超痕量重金属检测。
重量法:用于硅、铝等元素的含量测定。
极谱法:检测特定金属离子的电化学行为。
检测仪器
电感耦合等离子体质谱仪, 原子吸收光谱仪, X射线荧光光谱仪, 高频红外碳硫分析仪, 火花源原子发射光谱仪, 惰性气体熔融仪, 离子色谱仪, 分光光度计, 石墨炉原子吸收光谱仪, 辉光放电质谱仪, 激光诱导击穿光谱仪, 电感耦合等离子体原子发射光谱仪, 极谱仪, 马弗炉, 电子天平