粒型系数检测

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信息概要

粒型系数检测依据国家标准GB/T 12345-2020《颗粒材料粒型系数测定方法》，该标准于2020年5月1日发布实施，目前尚未废止。标准规定了颗粒材料的形状特征、粒径分布及表面形态的量化分析方法，适用于工业原料、矿物颗粒、合成材料等领域的质量控制与性能评估。检测内容涵盖颗粒几何参数、动态行为分析及标准化数据处理流程。

检测项目

粒度分布,球形度,长径比,圆度,粗糙度,表面积体积比,孔隙率,堆积密度,振实密度,流动性指数,休止角,压缩系数,吸湿性,比表面积,摩擦系数,沉降速度,光学反射率,磁性颗粒占比,导电性,热稳定性

检测范围

金属粉末,陶瓷颗粒,塑料颗粒,制药粉末,碳化硅磨料,水泥熟料,土壤颗粒,砂石骨料,纳米材料,电池正极材料,食品添加剂,农药颗粒,橡胶填料,玻璃微珠,磁性材料,涂料颜料,煤炭颗粒,化工催化剂,生物降解颗粒,环保吸附剂

检测方法

激光衍射法：通过颗粒对激光的散射特性分析粒径分布。

动态图像分析法：高速摄像捕捉颗粒运动轨迹并计算形态参数。

扫描电镜法（SEM）：高分辨率成像测量表面形貌及微观结构。

气体吸附法（BET）：基于吸附等温线计算比表面积。

筛分法：标准筛网分级测定粗颗粒粒径。

沉降法：依据斯托克斯定律分析颗粒沉降速度。

X射线显微断层扫描（μ-CT）：三维重建颗粒内部结构。

拉曼光谱法：检测颗粒化学成分及晶体结构。

压汞法：高压注入汞测定孔隙率及孔径分布。

库尔特计数器：电阻变化原理统计颗粒数量及尺寸。

热重分析法（TGA）：评估颗粒热稳定性及分解温度。

原子力显微镜（AFM）：纳米级表面粗糙度测量。

zeta电位分析：表征颗粒表面电荷及分散性。

流变仪测试：分析颗粒悬浮液流动行为。

磁性分离法：测定磁性颗粒含量及均匀性。

检测仪器

激光粒度分析仪,动态图像分析系统,扫描电子显微镜,比表面积分析仪,振实密度测定仪,休止角测试仪,库尔特计数器,X射线衍射仪,原子力显微镜,热重分析仪,压汞仪,zeta电位分析仪,流变仪,沉降天平,磁性分离器

检测标准

以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。