半导体器件电磁敏感性检测

(CMA)     (ISO) (高新技术企业)

信息概要

半导体器件电磁敏感性检测是针对半导体器件在电磁环境中抵抗干扰能力的评估服务，旨在确保器件在复杂电磁场下保持正常功能。该检测项目通过模拟实际电磁干扰场景，评估器件的电磁兼容性，防止因电磁干扰导致的性能退化或失效。检测的重要性在于提升半导体器件的可靠性和安全性，降低系统故障风险，支持电子产品在工业、通信、汽车等领域的稳定应用。概括而言，该检测通过标准化流程，全面分析器件的电磁敏感性，为产品质量提供保障。

检测项目

电磁敏感性阈值，频率响应范围，抗扰度电平，静电放电敏感性，辐射敏感性，传导敏感性，脉冲抗扰度，连续波抗扰度，瞬态抗扰度，浪涌抗扰度，电压跌落抗扰度，工频磁场抗扰度，射频电磁场抗扰度，电快速瞬变脉冲群抗扰度，雷击浪涌抗扰度，电压暂降抗扰度，谐波抗扰度，闪烁抗扰度，直流注入抗扰度，交流注入抗扰度，磁场抗扰度，电场抗扰度，电磁脉冲抗扰度，高功率微波抗扰度，低频磁场抗扰度，高频磁场抗扰度，射频传导抗扰度，射频辐射抗扰度，阻尼振荡抗扰度，温度变化抗扰度

检测范围

二极管，双极晶体管，场效应晶体管，集成电路，微处理器，存储器，模拟集成电路，数字集成电路，混合信号集成电路，功率半导体，光电器件，传感器，射频器件，微波器件，电力电子器件，分立器件，集成电路模块，系统级芯片，专用集成电路，可编程逻辑器件，微机电系统，纳米器件，化合物半导体器件，硅基器件，砷化镓器件，氮化镓器件，碳化硅器件，有机半导体器件，柔性电子器件，光电半导体器件

检测方法

辐射抗扰度测试，该方法通过模拟辐射电磁场环境，评估器件对辐射干扰的抵抗能力

传导抗扰度测试，该方法通过注入传导干扰信号，检测器件对传导干扰的敏感性

静电放电测试，该方法模拟静电放电事件，分析器件的静电防护性能

电快速瞬变脉冲群测试，该方法评估器件对快速瞬变脉冲干扰的抗扰度

浪涌抗扰度测试，该方法模拟雷击或开关浪涌，测试器件的浪涌耐受能力

电压跌落测试，该方法通过模拟电压跌落情况，检查器件的功能稳定性

工频磁场测试，该方法评估器件对工频磁场的抗干扰性能

射频电磁场测试，该方法使用射频信号源，测试器件在射频电磁场下的行为

脉冲磁场测试，该方法模拟脉冲磁场环境，分析器件的磁敏感性

阻尼振荡磁场测试，该方法评估器件对阻尼振荡磁场的响应

电压变化测试，该方法通过改变供电电压，检测器件的适应性

频率变化测试，该方法调整工作频率，评估器件的频率稳定性

谐波测试，该方法注入谐波干扰，测试器件的谐波抗扰度

闪烁测试，该方法模拟电压闪烁，分析器件的闪烁耐受性

直流注入测试，该方法通过注入直流信号，评估器件的直流抗扰能力

检测仪器

频谱分析仪，信号发生器，功率放大器，电磁兼容测试系统，静电放电模拟器，电快速瞬变脉冲群模拟器，浪涌发生器，电压跌落模拟器，工频磁场发生器，射频信号源，天线，电场探头，磁场探头，电流探头，电压探头

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。