X射线衍射材料结构测试

(CMA)     (ISO) (高新技术企业)

信息概要

X射线衍射材料结构测试是一种非破坏性分析技术，通过测量X射线与材料相互作用产生的衍射图案，来确定材料的晶体结构、相组成、晶粒大小和微观应力等参数。该测试在材料科学研究、工业生产质量控制、新产品开发以及故障分析中具有至关重要的作用，能够确保材料性能符合要求，优化生产工艺，并推动科技创新。

检测项目

晶格常数，晶粒大小，相含量，结晶度，残余应力，择优取向，晶体缺陷，原子位置，分子结构，热膨胀系数，弹性模量，密度，孔隙率，表面粗糙度，化学成分，元素分布，晶体对称性，晶界分析，相变温度，衍射强度，背景噪声，峰形分析，积分宽度，微应变，宏观应变，晶体取向，织构系数，晶格畸变，原子间距，键长键角

检测范围

金属材料，陶瓷材料，聚合物材料，复合材料，半导体材料，矿物材料，生物材料，纳米材料，薄膜材料，涂层材料，粉末材料，单晶材料，多晶材料，非晶材料，合金材料，氧化物材料，硫化物材料，氮化物材料，碳化物材料，硅酸盐材料，碳酸盐材料，磷酸盐材料，有机晶体材料，无机晶体材料，金属有机框架材料，沸石材料，催化剂材料，电池材料，磁性材料，超导材料

检测方法

粉末X射线衍射：用于分析多晶样品的晶体结构和相组成。

单晶X射线衍射：用于精确测定单晶的原子坐标和分子结构。

高分辨率X射线衍射：提供高精度的晶格参数和应变测量。

掠入射X射线衍射：专门用于表面、界面和薄膜的结构分析。

小角X射线散射：用于研究纳米尺度的结构和孔隙。

X射线反射率：测量薄膜的厚度、密度和粗糙度。

能量色散X射线衍射：利用能量色散探测器进行快速衍射分析。

角度色散X射线衍射：传统方法，通过角度扫描获得衍射图案。

原位X射线衍射：在温度、压力或气氛变化下实时监测结构演变。

高温X射线衍射：在高温条件下分析材料的热行为。

低温X射线衍射：在低温条件下研究材料的结构特性。

应力分析X射线衍射：测量材料中的残余应力和应变。

纹理分析：确定多晶材料的晶体取向分布和织构。

相定量分析：通过Rietveld精修等方法定量各相的含量。

微区X射线衍射：使用微束X射线进行局部结构分析。

检测仪器

X射线衍射仪，探测器，X射线管，测角仪，样品台，单晶衍射仪，粉末衍射仪，高分辨率衍射仪，掠入射衍射装置，小角散射装置，X射线反射计，能量色散光谱仪，波长色散光谱仪，原位反应室，高温附件

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。