检测样品

半导体

实验周期

7-15个工作日，加急实验一般5个工作日

检测项目

无偏高加速温湿试验

检测标准

基于失效故障机制的集成电路应力测试认证要求 AEC-Q100(H):2014 表2，测试A3，加速耐湿性无偏置高加速温度湿度应力测试

加速耐湿性无偏置高加速温度湿度应力测试 JESD22-A118(B):2015

以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师