硅质玻璃原料检测

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信息概要

硅质玻璃原料检测依据国家标准GB/T 1347-2008《钠钙硅玻璃化学分析方法》进行，该标准于2008年6月发布，现行有效未废止。检测涵盖化学成分分析、物理性能测试及安全性评估，确保原料符合工业生产和环保要求。

检测项目

二氧化硅含量,氧化钠含量,氧化钙含量,氧化镁含量,氧化铝含量,氧化铁含量,氧化钾含量,氧化硼含量,氧化钛含量,氧化锆含量,氟化物含量,氯离子含量,密度测试,硬度测试,折射率测定,热膨胀系数,软化点测定,耐热冲击性,耐酸性测试,耐碱性测试,透光率分析,气泡含量,杂质含量,抗压强度,熔点测定,抗拉强度

检测范围

普通硅质玻璃原料,高硼硅玻璃原料,石英玻璃原料,钠钙硅玻璃原料,铝硅酸盐玻璃原料,微晶玻璃原料,光学玻璃原料,药用玻璃原料,光伏玻璃原料,建筑用玻璃原料,汽车玻璃原料,耐高温玻璃原料,防辐射玻璃原料,低铁玻璃原料,彩色玻璃原料,镀膜玻璃原料,夹层玻璃原料,中空玻璃原料,钢化玻璃原料,超薄玻璃原料

检测方法

X射线荧光光谱法（XRF）用于主量元素快速分析

原子吸收光谱法（AAS）检测重金属杂质含量

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）进行多元素同步测定

热重分析法（TGA）评估材料热稳定性

紫外可见分光光度法（UV-Vis）测定透光率及色度指标

激光粒度分析法表征原料粒径分布

扫描电子显微镜（SEM）观察微观形貌结构

原子力显微镜（AFM）检测表面粗糙度

红外光谱法（FTIR）分析化学键结构

热膨胀仪测定线性膨胀系数

万能材料试验机测试机械性能参数

显微硬度计测量维氏/努氏硬度值

偏光显微镜检测内部应力分布

高温电阻炉进行耐热冲击试验

离子色谱法（IC）测定阴离子含量

检测仪器

X射线荧光光谱仪,原子吸收光谱仪,电感耦合等离子体发射光谱仪,热重分析仪,紫外可见分光光度计,激光粒度分析仪,扫描电子显微镜,原子力显微镜,傅里叶变换红外光谱仪,热膨胀仪,万能材料试验机,显微硬度计,偏光显微镜,高温电阻炉,离子色谱仪

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。