薄膜疲劳电气强度测试

(CMA)     (ISO) (高新技术企业)

信息概要

薄膜疲劳电气强度测试是一种评估薄膜材料在反复电气应力作用下的耐久性和绝缘性能的关键测试。该测试广泛应用于电子、电力、航空航天等领域，确保薄膜材料在长期使用中保持稳定的电气性能。检测的重要性在于提前发现材料潜在的电气失效风险，避免因绝缘性能下降导致的设备故障或安全事故，同时为产品设计和材料选型提供可靠数据支持。

检测项目

击穿电压：测量薄膜在高压下发生击穿时的电压值。

介电常数：评估薄膜材料储存电能的能力。

介质损耗角正切：表征薄膜在交变电场中的能量损耗。

体积电阻率：测量薄膜材料的绝缘性能。

表面电阻率：评估薄膜表面导电性能。

电气强度：测定薄膜单位厚度承受的最大电压。

耐电弧性：测试薄膜抵抗电弧破坏的能力。

局部放电：检测薄膜在电场作用下的局部放电现象。

热稳定性：评估薄膜在高温下的电气性能变化。

机械疲劳后电气性能：测试薄膜机械疲劳后的绝缘性能。

湿热老化后电气性能：评估薄膜在湿热环境老化后的电气特性。

低温电气性能：测定薄膜在低温环境下的绝缘性能。

耐化学腐蚀性：测试薄膜在化学介质作用后的电气性能。

耐紫外老化性：评估薄膜在紫外辐射后的电气性能变化。

耐臭氧性：测定薄膜在臭氧环境下的电气性能稳定性。

介电频谱：分析薄膜在不同频率下的介电特性。

空间电荷：测量薄膜在电场中积累的空间电荷分布。

电树枝老化：评估薄膜在电树枝老化下的绝缘性能。

电痕化：测试薄膜在电场和污染联合作用下的性能。

耐电晕性：评估薄膜抵抗电晕腐蚀的能力。

耐局部过热性：测定薄膜在局部过热条件下的电气性能。

耐脉冲电压：测试薄膜承受脉冲电压冲击的能力。

耐直流电压：评估薄膜在直流电压下的长期稳定性。

耐交流电压：测定薄膜在交流电压下的耐久性。

耐谐波电压：测试薄膜在谐波电压作用下的性能变化。

耐过电压：评估薄膜承受瞬时过电压的能力。

耐雷电冲击：测定薄膜抵抗雷电冲击电压的性能。

耐操作冲击：测试薄膜承受操作冲击电压的能力。

耐工频电压：评估薄膜在工频电压下的长期稳定性。

耐高频电压：测定薄膜在高频电压下的绝缘性能。

检测范围

聚酯薄膜,聚酰亚胺薄膜,聚四氟乙烯薄膜,聚乙烯薄膜,聚丙烯薄膜,聚苯乙烯薄膜,聚碳酸酯薄膜,聚氯乙烯薄膜,聚偏氟乙烯薄膜,聚醚醚酮薄膜,聚芳酰胺薄膜,聚萘二甲酸乙二醇酯薄膜,聚苯硫醚薄膜,聚醚砜薄膜,聚砜薄膜,聚甲醛薄膜,聚对苯二甲酸乙二醇酯薄膜,聚甲基丙烯酸甲酯薄膜,聚乳酸薄膜,聚己内酯薄膜,聚羟基烷酸酯薄膜,聚苯并咪唑薄膜,聚苯并噁唑薄膜,聚苯并噻唑薄膜,聚硅氧烷薄膜,聚氨酯薄膜,环氧树脂薄膜,酚醛树脂薄膜,有机硅薄膜,氟塑料薄膜

检测方法

击穿电压测试法：通过逐步升高电压直至薄膜击穿来测定电气强度。

介电谱分析法：利用宽频介电谱仪测量薄膜的介电常数和损耗。

体积电阻率测试法：采用高阻计测量薄膜的体积电阻。

表面电阻率测试法：使用电极法测量薄膜表面电阻。

电弧电阻测试法：通过标准电弧发生器评估薄膜的耐电弧性。

局部放电测试法：采用局部放电检测系统测量薄膜的局部放电量。

热老化试验法：将薄膜置于高温环境中进行加速老化后测试电气性能。

湿热老化试验法：在高温高湿条件下对薄膜进行老化处理。

低温试验法：将薄膜置于低温环境中测试其电气性能变化。

化学腐蚀试验法：将薄膜浸入化学试剂后测试其电气性能。

紫外老化试验法：使用紫外灯对薄膜进行加速老化。

臭氧老化试验法：将薄膜置于臭氧环境中测试其性能变化。

机械疲劳试验法：对薄膜施加机械应力后测试电气性能。

空间电荷测量法：采用电声脉冲法测量薄膜中的空间电荷分布。

电树枝老化试验法：在高压下观察薄膜中电树枝的生长情况。

电痕化试验法：在污染和电场共同作用下测试薄膜性能。

电晕老化试验法：利用电晕放电装置对薄膜进行老化处理。

脉冲电压试验法：对薄膜施加脉冲电压测试其耐受能力。

直流电压试验法：在直流电压下长期测试薄膜的稳定性。

交流电压试验法：在交流电压下评估薄膜的耐久性。

检测仪器

高压击穿测试仪,介电谱分析仪,高阻计,表面电阻测试仪,电弧电阻测试仪,局部放电检测系统,热老化试验箱,湿热老化试验箱,低温试验箱,紫外老化试验箱,臭氧老化试验箱,机械疲劳试验机,空间电荷测量系统,电树枝观测系统,电痕化试验装置,电晕老化试验装置,脉冲电压发生器,直流高压发生器,交流高压发生器,谐波电压发生器,雷电冲击电压发生器,操作冲击电压发生器,工频耐压测试仪,高频高压发生器,体积电阻率测试仪,介电常数测试仪,介质损耗测试仪,电气强度测试仪,耐电弧测试仪,局部放电测试仪

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。