简介

国家标准《电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减》 由TC166(全国电子设备用机电元件标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。

基本信息

标准号:GB/T 5095.2503-2021

发布日期:2021-03-09

实施日期: 2021-10-01

标准类别:方法

中国标准分类号:L23

国际标准分类号: 31.220.10 31 电子学 31.220 电子电信设备用机电元件 31.220.10 插头和插座装置、连接器

归口单位:全国电子设备用机电元件标准化技术委员会

执行单位:全国电子设备用机电元件标准化技术委员会

主管部门:工业和信息化部(电子)

相关标准

20121229-T-339  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减

20121234-T-339  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)

GB/T 5095.2502-2021  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)

GB/T 5095.1-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则

GB/T 5095.9-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验

GB/T 5095.11-1997  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11部分:气候试验

20121230-T-339  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分:试验25d:传输时延

GB/T 5095.2501-2021  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分:试验25a:串扰比

GB/T 5095.2504-2021  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分:试验25d:传输时延

GB/T 5095.2505-2021  电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分:试验25e:回波损耗