屏蔽效能SE分贝值计算（SE=20log(E₁/E₂)）

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信息概要

屏蔽效能（SE）是衡量电磁屏蔽材料或设备性能的重要指标，其分贝值计算公式为SE=20log(E₁/E₂)，其中E₁为未屏蔽时的电场强度，E₂为屏蔽后的电场强度。第三方检测机构提供专业的屏蔽效能检测服务，确保产品符合国际标准及行业规范。检测的重要性在于验证产品的电磁屏蔽性能，保障电子设备在复杂电磁环境中的稳定运行，避免信号干扰和数据泄露，提升产品质量与安全性。

检测项目

屏蔽效能（SE）值，频率范围，电场屏蔽效能，磁场屏蔽效能，平面波屏蔽效能，插入损耗，反射损耗，吸收损耗，传输阻抗，表面电阻，体积电阻，介电常数，磁导率，厚度均匀性，材料密度，耐温性能，耐湿性能，耐腐蚀性能，抗拉强度，柔韧性

检测范围

电磁屏蔽涂料，导电橡胶，金属屏蔽网，导电织物，屏蔽胶带，导电泡棉，金属屏蔽罩，导电玻璃，导电塑料，电磁屏蔽膜，导电涂层，屏蔽机箱，导电陶瓷，导电纤维，电磁屏蔽复合材料，导电胶水，屏蔽电缆，导电薄膜，电磁屏蔽涂料，导电粉末

检测方法

屏蔽效能测试法（依据标准IEEE 299）：通过测量屏蔽前后的电场或磁场强度计算SE值。

传输线法：利用同轴传输线测量材料的屏蔽效能。

法兰同轴法：适用于高频段屏蔽效能的测试。

屏蔽室法：在屏蔽室内外测量电磁场强度差异。

近场扫描法：通过近场探头检测屏蔽材料的局部屏蔽性能。

远场辐射法：模拟远场辐射环境测试屏蔽效能。

表面电阻测试法：使用四探针法测量材料的表面电阻。

体积电阻测试法：测量材料的体积电阻率。

介电常数测试法：通过电容法测定材料的介电性能。

磁导率测试法：利用阻抗分析仪测量材料的磁导率。

插入损耗测试法：测量屏蔽材料对信号传输的衰减程度。

反射损耗测试法：评估屏蔽材料对电磁波的反射能力。

吸收损耗测试法：分析屏蔽材料对电磁波的吸收性能。

耐温测试法：检测材料在高温环境下的屏蔽效能稳定性。

耐湿测试法：评估材料在潮湿环境中的屏蔽性能变化。

检测仪器

网络分析仪，频谱分析仪，信号发生器，电磁场强度测试仪，屏蔽效能测试系统，四探针电阻测试仪，阻抗分析仪，介电常数测试仪，磁导率测试仪，同轴传输线夹具，法兰同轴夹具，近场扫描系统，远场辐射测试系统，高温试验箱，恒温恒湿试验箱

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。