冷热冲击测试

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信息概要

冷热冲击测试是一种用于评估产品在极端温度变化条件下的性能和可靠性的测试方法。该测试通过模拟产品在短时间内经历高温和低温的快速转换，检测其材料、结构及功能的适应性。冷热冲击测试广泛应用于电子、汽车、航空航天等领域，对于确保产品在恶劣环境下的稳定性和耐久性至关重要。通过此项测试，可以提前发现潜在缺陷，优化产品设计，提高产品质量和市场竞争力。

检测项目

温度循环范围, 温度转换时间, 高温保持时间, 低温保持时间, 温度恢复时间, 样品外观检查, 电气性能测试, 机械性能测试, 材料变形分析, 焊接点可靠性, 密封性能, 绝缘电阻, 耐电压测试, 热膨胀系数, 低温启动性能, 高温耐久性, 温度均匀性, 湿度影响, 振动叠加测试, 失效分析

检测范围

电子元器件, 电路板, 半导体器件, 电池, 汽车电子, 航空航天设备, 军用设备, 通信设备, 家用电器, 医疗设备, 工业控制器, 传感器, LED照明, 太阳能组件, 电力设备, 塑料制品, 橡胶制品, 金属材料, 涂层材料, 复合材料

检测方法

GB/T 2423.22-2012：通过快速温度变化测试产品的耐冷热冲击能力。

IEC 60068-2-14：采用标准化的温度冲击测试方法评估产品性能。

MIL-STD-883：适用于军用电子设备的冷热冲击测试标准。

JESD22-A104：针对半导体器件的温度循环测试方法。

ISO 16750-4：汽车电子设备的环境测试标准之一。

AEC-Q100：汽车电子元器件的可靠性测试标准。

GJB 150.5A-2009：军用设备的环境测试方法。

IPC-9701：电路板组装件的可靠性测试标准。

SAE J1211：汽车零部件的环境测试规范。

EN 60068-2-14：欧洲标准的温度冲击测试方法。

ASTM D3106：塑料材料的冷热循环测试标准。

JIS C 0025：日本工业标准的温度冲击测试方法。

ESD S5.1：静电敏感器件的环境测试标准。

NASA-STD-7003：航空航天设备的环境测试规范。

MIL-STD-810G：军用设备的综合环境测试标准。

检测仪器

冷热冲击试验箱, 高低温试验箱, 温度记录仪, 热电偶, 数据采集系统, 显微镜, 电子负载仪, 绝缘电阻测试仪, 耐电压测试仪, 热成像仪, 振动台, 湿度传感器, 材料分析仪, 焊接强度测试仪, 失效分析仪

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。