IC引脚弯曲疲劳拉断阈值（JESD22-B113）

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信息概要

IC引脚弯曲疲劳拉断阈值（JESD22-B113）是评估集成电路引脚在反复弯曲应力下抗疲劳性能的关键标准，广泛应用于电子元器件可靠性测试。该检测项目通过模拟实际使用中的机械应力，确保引脚在长期使用或安装过程中不易断裂，从而保障产品的耐用性和稳定性。检测的重要性在于避免因引脚失效导致的电路功能异常，提升产品质量并降低售后风险。第三方检测机构提供专业、合规的测试服务，帮助企业满足行业标准及客户要求。

检测项目

弯曲疲劳次数, 拉断力阈值, 引脚材料硬度, 引脚镀层厚度, 引脚几何尺寸, 弯曲角度, 应力分布, 疲劳寿命, 断裂形貌分析, 弹性模量, 塑性变形量, 残余应力, 温度循环影响, 湿度影响, 振动疲劳, 机械冲击耐受性, 引脚焊接强度, 微观结构观察, 腐蚀敏感性, 表面粗糙度

检测范围

QFP封装, BGA封装, SOP封装, QFN封装, DIP封装, LGA封装, TSOP封装, CSP封装, PLCC封装, SOIC封装, TSSOP封装, DFN封装, SON封装, VQFN封装, SSOP封装, PGA封装, WLCSP封装, FCBGA封装, PDIP封装, CERDIP封装

检测方法

循环弯曲测试：通过机械装置对引脚进行反复弯曲，记录断裂前的循环次数。

静态拉断测试：施加轴向拉力直至引脚断裂，测定最大拉断力。

显微硬度测试：使用显微硬度计测量引脚材料的局部硬度。

镀层测厚仪：通过X射线或涡流法检测引脚镀层厚度。

光学尺寸测量：利用光学显微镜或影像测量仪分析引脚几何尺寸。

SEM分析：扫描电子显微镜观察断裂面的微观形貌。

应力应变曲线测试：通过拉伸试验机绘制材料的应力-应变关系。

温度循环试验：在高低温交替环境中评估引脚疲劳性能变化。

振动台测试：模拟实际振动环境对引脚的影响。

盐雾试验：评估引脚镀层在腐蚀环境中的耐久性。

金相制备：通过切割、抛光、蚀刻观察引脚横截面微观结构。

X射线衍射：测定引脚材料的残余应力分布。

粗糙度仪：测量引脚表面粗糙度参数。

焊接强度测试：通过剪切或拉力试验评估引脚与焊点的结合强度。

有限元分析：计算机模拟弯曲过程中的应力分布。

检测仪器

万能材料试验机, 显微硬度计, X射线镀层测厚仪, 光学显微镜, 扫描电子显微镜, 影像测量仪, 振动试验台, 高低温循环箱, 盐雾试验箱, 粗糙度测试仪, 金相切割机, 涡流测厚仪, 拉伸试验机, 有限元分析软件, 激光位移传感器

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。