纳米颗粒粒径分布飞行时间质谱测试（量子点/催化材料，半导体企业）

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信息概要

纳米颗粒粒径分布飞行时间质谱测试是一种高精度的分析技术，广泛应用于量子点、催化材料及半导体企业的产品质量控制与研发。该测试通过测量纳米颗粒的粒径分布，为材料性能优化、工艺改进及产品一致性提供关键数据支持。检测的重要性在于确保纳米材料的均一性、稳定性及功能性，直接影响最终产品的光电性能、催化效率及半导体器件的可靠性。

检测项目

粒径分布, 平均粒径, 粒径标准差, 粒径分散度, 颗粒浓度, 颗粒形貌, 表面电荷, 比表面积, 孔隙率, 团聚状态, 元素组成, 化学纯度, 晶体结构, 表面官能团, 光学性能, 电学性能, 磁学性能, 热稳定性, 催化活性, 生物相容性

检测范围

量子点, 金属纳米颗粒, 氧化物纳米颗粒, 碳基纳米材料, 半导体纳米颗粒, 磁性纳米颗粒, 贵金属催化剂, 合金纳米颗粒, 聚合物纳米颗粒, 陶瓷纳米颗粒, 核壳结构纳米颗粒, 多孔纳米材料, 荧光纳米材料, 导电纳米材料, 生物医用纳米颗粒, 环境催化材料, 能源存储材料, 光电转换材料, 纳米涂层材料, 纳米复合材料

检测方法

飞行时间质谱法（TOF-MS）：通过测量离子飞行时间确定颗粒质量与粒径分布。

动态光散射（DLS）：利用光散射信号分析颗粒的流体力学直径。

透射电子显微镜（TEM）：直接观察纳米颗粒形貌与粒径。

X射线衍射（XRD）：分析纳米颗粒的晶体结构与相纯度。

比表面积分析（BET）：通过气体吸附测定颗粒比表面积与孔隙率。

Zeta电位测试：评估颗粒表面电荷与分散稳定性。

紫外-可见光谱（UV-Vis）：测定纳米材料的光学吸收特性。

傅里叶变换红外光谱（FTIR）：鉴定表面官能团与化学键。

拉曼光谱：分析材料分子振动模式与结构缺陷。

热重分析（TGA）：测定纳米材料的热稳定性与组成变化。

电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）：定量检测元素组成与杂质含量。

扫描电子显微镜（SEM）：观察颗粒表面形貌与微观结构。

原子力显微镜（AFM）：高分辨率表征颗粒表面形貌与力学性能。

X射线光电子能谱（XPS）：分析表面元素化学状态与组成。

磁性测量（VSM）：评估纳米材料的磁学性能。

检测仪器

飞行时间质谱仪, 动态光散射仪, 透射电子显微镜, X射线衍射仪, 比表面积分析仪, Zeta电位分析仪, 紫外-可见分光光度计, 傅里叶变换红外光谱仪, 拉曼光谱仪, 热重分析仪, 电感耦合等离子体质谱仪, 扫描电子显微镜, 原子力显微镜, X射线光电子能谱仪, 振动样品磁强计

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。