X射线衍射(XRD)晶体结构检测

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信息概要

X射线衍射(XRD)晶体结构检测是一种通过分析材料对X射线的衍射图谱来确定其晶体结构、物相组成及微观结构的检测技术。该技术广泛应用于材料科学、化学、地质学、制药等领域，对于产品质量控制、新材料研发、工艺优化等具有重要意义。通过XRD检测，可以准确识别材料的晶型、晶格参数、结晶度、残余应力等关键信息，为科研和工业生产提供可靠的数据支持。

检测项目

物相定性分析,物相定量分析,晶格常数测定,结晶度测定,晶粒尺寸计算,残余应力分析,织构分析,薄膜厚度测量,层状结构分析,晶体取向测定,晶体缺陷分析,非晶含量测定,晶体结构精修,多晶型分析,晶体对称性分析,晶体生长方向测定,晶体热膨胀系数测定,晶体密度计算,晶体稳定性评估,晶体纯度检测

检测范围

金属材料,无机非金属材料,有机材料,高分子材料,纳米材料,陶瓷材料,复合材料,矿物样品,催化剂,电池材料,半导体材料,药物晶体,水泥,玻璃,涂层材料,薄膜材料,磁性材料,超导材料,合金材料,地质样品

检测方法

粉末X射线衍射法：通过分析粉末样品的衍射图谱确定物相组成和晶体结构

单晶X射线衍射法：用于测定单晶样品的精确晶体结构参数

掠入射X射线衍射法：适用于薄膜和表面结构的分析

高温X射线衍射法：研究材料在高温条件下的结构变化

低温X射线衍射法：研究材料在低温条件下的结构变化

原位X射线衍射法：实时监测材料在特定环境下的结构演变

小角X射线散射法：用于分析纳米尺度的结构特征

广角X射线衍射法：用于分析晶体材料的宏观结构特征

同步辐射X射线衍射法：利用同步辐射光源进行高分辨率结构分析

微区X射线衍射法：对样品微小区域进行结构分析

应力X射线衍射法：专门用于材料残余应力的测定

快速X射线衍射法：用于动态过程的快速结构分析

能量色散X射线衍射法：通过能量分析实现多元素同时检测

二维X射线衍射法：获取样品的二维衍射信息

变温X射线衍射法：研究材料在不同温度下的结构变化

检测仪器

X射线衍射仪,粉末衍射仪,单晶衍射仪,薄膜衍射仪,高温衍射仪,低温衍射仪,原位衍射仪,小角散射仪,广角衍射仪,同步辐射衍射仪,微区衍射仪,应力衍射仪,快速衍射仪,能量色散衍射仪,二维衍射仪

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。