扩展X射线吸收精细结构（EXAFS）

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信息概要

扩展X射线吸收精细结构（EXAFS）是一种用于研究材料局部原子结构和化学环境的高精度分析技术。通过测量X射线吸收系数随能量的变化，EXAFS可以提供关于目标原子周围配位壳层的距离、配位数和无序度等信息。该技术广泛应用于材料科学、化学、生物学、环境科学等领域，对于理解材料的性能、反应机理以及开发新型功能材料具有重要意义。检测EXAFS数据有助于揭示材料的微观结构特征，为科研和工业应用提供关键支持。

检测项目

吸收边能量, 近边结构（XANES）, 振荡幅度, 相位位移, 配位数, 原子间距, 德拜-沃勒因子, 电子转移, 化学键长, 配位环境, 价态分析, 散射路径, 多重散射效应, 非弹性散射, 各向异性, 温度依赖性, 压力依赖性, 样品均匀性, 元素特异性, 氧化还原状态

检测范围

金属材料, 合金材料, 氧化物, 硫化物, 氮化物, 碳材料, 纳米材料, 催化剂, 电池材料, 半导体材料, 陶瓷材料, 玻璃材料, 聚合物材料, 生物材料, 环境样品, 地质样品, 薄膜材料, 复合材料, 磁性材料, 超导材料

检测方法

透射法EXAFS：通过测量样品透射的X射线强度来获取吸收谱。

荧光法EXAFS：利用样品发射的荧光信号进行测量，适用于低浓度样品。

电子产额法EXAFS：通过检测样品发射的电子信号来获得吸收谱。

全反射EXAFS：适用于表面和薄膜样品的分析。

偏振依赖EXAFS：用于研究各向异性材料的局部结构。

温度依赖EXAFS：研究材料结构随温度的变化。

压力依赖EXAFS：分析材料在高压条件下的结构变化。

时间分辨EXAFS：用于动态过程的研究。

原位EXAFS：在反应过程中实时监测材料结构变化。

同步辐射EXAFS：利用同步辐射光源提高信噪比和分辨率。

实验室X射线源EXAFS：使用常规X射线源进行测量。

多边EXAFS：结合多种技术进行综合分析。

定量EXAFS：通过拟合模型获得精确的结构参数。

定性EXAFS：用于快速评估样品的局部结构特征。

比较EXAFS：通过对比不同样品的谱图分析差异。

检测仪器

同步辐射光源, X射线荧光光谱仪, 透射X射线吸收谱仪, 荧光X射线吸收谱仪, 电子能量分析仪, 低温恒温器, 高压腔, 原位反应池, 偏振器, 探测器阵列, 单色器, 能量校准器, 样品台, 数据采集系统, 数据处理软件

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。