BGA封装层间导通电阻测试

(CMA)     (ISO) (高新技术企业)

信息概要

BGA封装层间导通电阻测试是评估球栅阵列封装器件电气性能与可靠性的重要检测项目，主要通过测量层间导通电阻值验证芯片内部金属线路、焊球及基板间的连接质量。该测试对预防电路短路、断路、信号传输异常等潜在缺陷具有关键作用，可为电子元器件在通信设备、计算机主板、工业控制系统等高精度场景下的稳定运行提供数据支持。检测信息涵盖电阻值范围判定、接触稳定性分析、材料导电性能评估等核心内容。

检测项目

层间导通电阻值测量,焊球接触电阻检测,基板线路电阻测试,金属层间结合强度评估,绝缘电阻测量,介电强度测试,热阻系数分析,焊球共面度检测,焊盘尺寸测量,材料导电率测试,层间电迁移测试,高频信号损耗检测,温度循环电阻变化率,湿度老化后电阻稳定性测试,焊球剪切强度检测,基板翘曲度测量,焊料合金成分分析,界面分层检测,X射线透视检查,边界扫描测试

检测范围

塑料BGA封装,陶瓷BGA封装,微型BGA封装,倒装芯片BGA,增强型BGA,球栅阵列倒装芯片封装,多芯片模块BGA,射频BGA封装,高密度互连BGA,低温共烧陶瓷BGA,金属盖封装BGA,无铅焊球BGA,车载级BGA封装,航空航天用BGA,高速通信BGA,功率器件BGA,逻辑芯片BGA,存储器BGA封装,图形处理器BGA,网络交换芯片BGA

检测方法

四线法精密电阻测量：通过独立电流/电压电极消除引线误差

边界扫描测试技术：利用JTAG接口进行电路连接完整性分析

X射线三维成像检测：实现焊球内部空洞与界面分层可视化

热循环加速老化测试：模拟极端温度环境下的电阻稳定性

扫描电镜微区分析：观测微观界面结构与材料形貌

能量色散X射线光谱分析：定量检测焊料合金元素组成

高频阻抗分析仪测试：评估信号完整性参数

三点弯曲测试：测量基板机械强度

湿度老化实验箱测试：验证吸湿后电气性能

激光共聚焦显微测试：精确测量焊球共面度

热重分析仪检测：评估材料热稳定性

飞行时间二次离子质谱分析：深度剖析界面污染

红外热成像检测：定位异常温升区域

超声波扫描显微镜：检测焊接界面空隙率

电迁移加速测试：评估长期可靠性

检测仪器

数字源表,四探针测试仪,X射线检测系统,边界扫描测试仪,扫描电子显微镜,能谱分析仪,矢量网络分析仪,三点弯曲测试机,恒温恒湿试验箱,激光共聚焦显微镜,热重分析仪,二次离子质谱仪,红外热像仪,超声波扫描显微镜,电迁移测试平台

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。