X射线衍射分析

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信息概要

X射线衍射分析（XRD）是一种先进的无损检测技术，用于确定材料的晶体结构、相组成和微观特性。该技术广泛应用于材料科学、制药、地质、制造业和研发领域，通过分析X射线在样品上的衍射图案来识别晶格参数、物相和缺陷。检测的重要性在于确保产品质量控制、研发创新、材料失效分析以及合规性验证，例如在药品生产中保证晶体纯度和稳定性，或在金属加工中监测残余应力，从而减少风险、提升性能和满足行业标准。

检测项目

晶格常数, 相含量, 晶体尺寸, 择优取向, 结晶度, 晶胞参数, 晶面间距, 物相鉴定, 定量相分析, 残余应力, 织构分析, 晶粒大小, 微观应变, 晶格畸变, 晶体对称性, 缺陷密度, 非晶含量, 多晶结构, 单晶取向, 晶界特性

检测范围

金属材料, 陶瓷材料, 聚合物材料, 矿物样品, 药物晶体, 催化剂材料, 纳米颗粒, 半导体材料, 合金样品, 复合材料, 土壤样本, 骨料材料, 水泥产品, 玻璃制品, 纤维材料, 薄膜样品, 粉末样品, 单晶样品, 多晶样品, 生物材料

检测方法

粉末X射线衍射：用于分析多晶或粉末样品的晶体结构和相组成。

单晶X射线衍射：针对单晶体样品，确定原子级晶体结构和键合信息。

掠入射X射线衍射：适用于薄膜或表面层分析，减少基底干扰。

高温X射线衍射：在加热条件下测量材料相变或热稳定性。

低温X射线衍射：在冷却环境中研究低温相行为或冷冻样品。

原位X射线衍射：实时监测样品在外部条件（如压力或化学反应）下的变化。

微区X射线衍射：聚焦小区域进行高分辨率分析，用于异质材料。

应力分析X射线衍射：测量材料残余应力和应变分布。

定量相分析：通过衍射强度计算各相的含量比例。

结晶度测定：评估非晶或半结晶材料的结晶程度。

织构分析：确定晶体取向的统计分布。

晶粒尺寸分析：基于衍射峰宽计算平均晶粒大小。

晶格参数精修：优化晶胞尺寸和角度参数。

缺陷表征：识别晶格缺陷如位错或空位。

同步辐射X射线衍射：利用高强度光源进行高精度快速扫描。

检测仪器

X射线衍射仪, 粉末衍射仪, 单晶衍射仪, 同步辐射设备, 实验室XRD系统, 高通量衍射仪, 微区衍射仪, 掠入射衍射系统, 原位衍射装置, 高温衍射附件, 低温衍射附件, 应力分析仪, 相分析软件, 探测器阵列, 样品台系统

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。