原子力显微镜检测

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信息概要

原子力显微镜（AFM）检测是一种高分辨率纳米级表征技术，通过探针与样品表面的相互作用力分析材料表面形貌、力学性能及功能特性。该检测服务广泛应用于材料科学、半导体、生物医学、能源等领域，为产品质量控制、研发优化及失效分析提供关键数据支持。检测的重要性在于其能够揭示微观结构缺陷、表面粗糙度、材料弹性模量等核心参数，确保产品性能符合设计标准及行业规范。

检测项目

表面粗糙度，弹性模量，黏附力，摩擦力，表面电势，磁畴分布，纳米硬度，表面电荷密度，材料相变分析，薄膜厚度，颗粒尺寸分布，表面缺陷检测，分子间作用力，生物样本形貌，纳米结构三维成像，导电性分布，热导率，表面亲疏水性，纳米级形变分析，化学官能团定位

检测范围

纳米材料，半导体器件，高分子聚合物，生物细胞膜，碳基材料（如石墨烯），金属薄膜，陶瓷涂层，药物颗粒，微机电系统（MEMS），光学薄膜，量子点材料，复合材料界面，锂电池电极材料，蛋白质分子，DNA结构，纳米线/管，胶体颗粒，光刻胶表面，传感器元件，生物矿化材料

检测方法

接触模式成像：探针直接接触样品表面，获取高分辨率形貌数据。

轻敲模式成像：探针高频振动扫描，减少对软性样品的损伤。

力曲线分析：测量探针与样品间的力-距离关系，计算弹性模量。

静电力显微镜（EFM）：检测表面静电荷分布及电势变化。

磁力显微镜（MFM）：表征材料磁畴结构及磁化方向。

导电原子力显微镜（CAFM）：分析纳米尺度导电特性。

扫描热显微镜（SThM）：测量局部热导率及温度分布。

流体共振模式：用于液体环境中生物样本的原位观测。

纳米压痕测试：量化材料硬度及蠕变特性。

相位成像技术：区分材料组分及黏弹性差异。

化学力显微镜（CFM）：通过功能化探针识别特定化学基团。

高速扫描模式：实现动态过程的实时监测。

横向力显微镜（LFM）：量化表面摩擦系数。

多频激励技术：同步获取多种材料特性参数。

力谱成像：绘制分子间作用力的空间分布图谱。

检测仪器

原子力显微镜（AFM），扫描电子显微镜（SEM），X射线光电子能谱仪（XPS），纳米压痕仪，拉曼光谱仪，椭偏仪，表面轮廓仪，接触角测量仪，动态力学分析仪（DMA），热重分析仪（TGA），差示扫描量热仪（DSC），紫外可见分光光度计，红外光谱仪（FTIR），Zeta电位分析仪，四探针电阻率测试仪

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。