高纯铋检测

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检测范围

高纯铋（纯度≥99.99%）的检测范围主要涵盖其在半导体材料、电子元器件、核工业屏蔽材料、光伏材料及医药领域的应用。具体包括铋锭、铋粉、铋化合物（如氧化铋、硝酸铋）等形态，以及其在高温超导材料、合金添加剂等场景中的品质控制需求。

检测项目

1. 纯度分析：主成分铋的含量测定（≥99.99%）。
2. 痕量杂质元素：检测铅（Pb）、铜（Cu）、铁（Fe）、银（Ag）、砷（As）、硫（S）等金属和非金属杂质，控制总量≤100 ppm。
3. 物理性质：密度（9.78 g/cm³）、熔点（271.4℃）、晶型结构（菱形晶体）等。
4. 化学成分：氧（O）、碳（C）、氮（N）等气体元素含量。
5. 放射性物质：铀（U）、钍（Th）等放射性同位素的残留量（要求≤0.01 Bq/g）。

检测仪器

1. 电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）：用于痕量杂质元素（ppb级）定量分析。
2. 辉光放电质谱仪（GDMS）：检测表面及体相杂质，灵敏度达0.001 ppm。
3. 原子吸收光谱仪（AAS）：测定特定金属元素（如Fe、Cu）。
4. X射线衍射仪（XRD）：分析晶体结构及相纯度。
5. 扫描电子显微镜-能谱仪（SEM-EDS）：观察微观形貌及元素分布。
6. 气体分析仪：测定氧、氮、碳等气体杂质（检测限≤1 ppm）。
7. BET比表面分析仪：测量粉末样品的比表面积（0.1-50 m²/g）。
8. 放射性检测仪：高纯锗γ谱仪（HPGe）用于U/Th同位素检测。

检测方法

1. 痕量元素分析：

   • 样品经硝酸溶解后，采用ICP-MS测定23种杂质元素，内标法校正基体效应。
   • GDMS直接分析固体样品，深度剖析检测表面污染及体相杂质。

2. 纯度测定：

   • 差减法：通过杂质总量反推主成分含量，误差≤0.005%。
   • 容量法：硫氰酸钾滴定法测定铋含量（GB/T 8220.2-2022）。

3. 物理性质检测：

   • 阿基米德法测定密度（精度±0.02 g/cm³）。
   • 差示扫描量热仪（DSC）分析熔点（升温速率10℃/min）。

4. 气体元素检测：

   • 惰性气体熔融-红外法测定氧、氮（检测限0.1 ppm）。
   • 高频燃烧-红外吸收法测定碳含量（ASTM E1019）。

5. 放射性检测：

   • 样品粉碎后，用HPGe γ谱仪测量²³⁸U、²³²Th特征能峰，活度计算符合ISO 18589标准。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。