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薄膜检测

更新时间:2025-04-26  分类 : 其它检测 点击 :
检测问题解答

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检测范围

薄膜检测主要涵盖以下应用领域:

  1. 光学薄膜:如滤光片、增透膜、反射膜等,用于镜头、显示屏、光学仪器等;
  2. 包装薄膜:包括食品包装膜(如PE、PP膜)、药品包装膜(铝塑复合膜)、工业用阻隔膜等;
  3. 电子薄膜:如半导体用绝缘膜(SiO₂、Si₃N₄)、柔性电路基材膜(PI膜)、显示屏偏光膜等;
  4. 建筑薄膜:如玻璃隔热膜、防爆膜、装饰膜等。

检测项目

薄膜检测的核心项目包括:

  1. 厚度均匀性:检测薄膜整体及局部厚度偏差;
  2. 光学性能:透光率、雾度、折射率、反射率、光谱特性等;
  3. 机械性能:拉伸强度、断裂伸长率、剥离强度、耐折性、耐磨性;
  4. 化学成分:材料成分分析、添加剂含量(如增塑剂、抗氧化剂)、残留溶剂检测;
  5. 表面形貌:粗糙度、缺陷(针孔、裂纹)、涂层均匀性;
  6. 热性能:热稳定性(TGA)、玻璃化转变温度(DSC)、热收缩率;
  7. 电性能:介电常数、介电损耗、表面/体积电阻率;
  8. 阻隔性能:水蒸气透过率(WVTR)、氧气透过率(OTR)、耐化学腐蚀性。

检测仪器

  1. 厚度测量:椭偏仪(纳米级精度)、激光测厚仪、千分尺(接触式);
  2. 光学性能分析:紫外-可见分光光度计、积分球雾度计、椭圆偏振光谱仪;
  3. 机械性能测试:万能材料试验机(ASTM D882标准)、剥离强度测试仪、MIT耐折度仪;
  4. 成分分析:傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)、气相色谱-质谱联用仪(GC-MS)、X射线光电子能谱仪(XPS);
  5. 表面形貌表征:原子力显微镜(AFM)、扫描电子显微镜(SEM)、白光干涉仪;
  6. 热性能测试:差示扫描量热仪(DSC)、热重分析仪(TGA)、热机械分析仪(TMA);
  7. 电性能测试:四探针电阻率测试仪、高阻计、介电强度测试仪(IEC 60243标准);
  8. 阻隔性能测试:压差法气体透过仪(GB/T 1038)、电解法水蒸气透过仪(ASTM F1249)。

检测方法

  1. 厚度测量

    • 椭偏仪通过偏振光反射相位差计算膜厚,适用于透明/半透明薄膜;
    • 千分尺采用机械接触法,需多点测量后取均值。
  2. 透光率与雾度检测

    • 依据ASTM D1003标准,将薄膜样品置于积分球内,通过入射光与散射光强度比值计算透光率和雾度。
  3. 拉伸性能测试

    • 按ISO 527标准裁切哑铃型试样,以恒定速率拉伸至断裂,记录应力-应变曲线并计算弹性模量、断裂强度等参数。
  4. 化学成分分析

    • FTIR通过特征吸收峰鉴定官能团,GC-MS用于挥发性有机物定量分析,XPS测定表面元素价态及分布。
  5. 表面粗糙度检测

    • AFM探针在接触模式下扫描表面,生成三维形貌图并计算Ra(算术平均粗糙度);
    • 白光干涉仪通过光程差分析纳米级起伏。
  6. 热稳定性测试

    • TGA在氮气氛围中以10℃/min升温,记录质量损失曲线,确定分解温度;
    • DSC测定玻璃化转变温度(Tg)及熔融峰。
  7. 电导率测试

    • 四探针法通过施加恒定电流,测量薄膜表面电压降,利用公式计算电阻率(适用于导电薄膜)。
  8. 氧气透过率检测

    • 压差法将薄膜密封于测试腔,一侧充入高压氧气,通过传感器监测低压侧氧气浓度变化,计算OTR值(单位:cm³/m²·day·atm)。

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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测须知

1、周期(一般实验需要7-15个工作日,加急一般是5个工作日左右,毒理实验以及降解实验周期可以咨询工程师)

2、费用(免费初检,初检完成以后根据客户的检测需求以及实验的复杂程度进行实验报价)

3、样品量(由于样品以及实验的不同,具体样品量建议先询问工程师)

4、标准(您可以推荐标准或者我们工程师为您推荐:国标、企标、国军标、非标、行标、国际标准等)

5、如果您想查看关于薄膜检测的报告模板,可以咨询工程师索要模板查看。

6、后期提供各种技术服务支持,完整的售后保障

以上是关于【薄膜检测】相关介绍,如果您还有其他疑问,可以咨询工程师提交您的需求,为您提供一对一解答。

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