粉径分布D检测

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检测范围 粉径分布D检测适用于各类粉末材料的粒径分析，涵盖纳米级至毫米级颗粒。检测对象包括但不限于金属粉末、陶瓷粉末、化工原料、制药颗粒、食品添加剂及环境粉尘等。检测粒径范围通常为0.01 μm至3500 μm，具体依据样品特性及仪器性能调整。

检测项目

1. 粒径分布参数：包括D10、D50、D90等特征值，分别代表累积分布中10%、50%、90%的颗粒粒径。
2. 粒度分布曲线：绘制体积/数量-粒径分布曲线，分析颗粒集中度与分散性。
3. 比表面积：通过粒径数据间接计算粉末比表面积，评估颗粒的活性与吸附性能。
4. 粒径跨度：通过（D90-D10）/D50计算分布宽度，表征粒径均匀性。

检测仪器

1. 激光粒度分析仪：基于Mie散射原理，支持干法和湿法分散，测量范围0.1-3500 μm。
2. 动态光散射仪（DLS）：适用于纳米级颗粒（0.001-10 μm），通过布朗运动分析粒径。
3. 扫描电镜（SEM）：结合图像处理软件，直接观测颗粒形貌并统计粒径分布（1 nm-100 μm）。
4. 沉降式粒度仪：利用斯托克斯定律分析1-300 μm颗粒的沉降速度与粒径关系。

检测方法

1. 样品制备：

   • 干法分散：对流动性好的粉末采用压缩空气分散，避免团聚。
   • 湿法分散：将样品与分散剂（如去离子水、乙醇）混合，超声处理5-10分钟。
   • 纳米样品需稀释至透光率达标（通常0.1-1 wt%浓度）。

2. 测试流程：

   • 激光粒度法：校准仪器后，加载样品并设置折射率参数，自动采集散射光强数据，通过反演算法计算分布。
   • 动态光散射法：将样品置于比色皿，测量光强波动自相关函数，拟合得出粒径分布。
   • SEM法：喷金处理后拍摄多区域图像，使用ImageJ等软件手动/自动测量颗粒等效直径。

3. 数据分析：

   • 采用仪器配套软件生成分布报告，剔除异常值后输出D值及分布曲线。
   • 比对重复测试结果，确保相对标准偏差（RSD）≤3%。
   • 湿法测试需注明分散介质及超声条件，干法测试需记录气压参数。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。