欢迎访问北京中科光析科学技术研究所
其它检测
当前位置:首页 > 检测项目 > 其它检测

物相分析检测

更新时间:2025-04-26  分类 : 其它检测 点击 :
检测问题解答

荣誉资质图片

阅读不方便?点击直接咨询工程师!
cma资质(CMA)     iso体系(ISO) 高新技术企业(高新技术企业)

检测范围 物相分析检测主要应用于材料科学、地质矿物、化工产品、环境样品、生物医药等领域,涵盖固体粉末、薄膜、块体材料、纳米颗粒及复合材料等多种形态的样品。检测对象包括金属、陶瓷、高分子、矿物、催化剂、药物晶体等,重点关注其化学组成、晶体结构、相变行为及微观形貌特征。

检测项目

  1. 物相组成分析:确定样品中存在的晶相、非晶相及其比例。
  2. 晶体结构表征:分析晶格参数、空间群、原子占位等结构信息。
  3. 结晶度测定:量化材料中结晶区域与非结晶区域的含量。
  4. 晶粒尺寸与微观应变:评估晶粒大小及内部缺陷引起的晶格畸变。
  5. 相含量定量分析:通过标准曲线或全谱拟合计算各相的百分比含量。

检测仪器

  1. X射线衍射仪(XRD):基于布拉格定律实现物相定性与定量分析,配备高速探测器及高温/低温附件。
  2. 扫描电子显微镜(SEM):结合能谱仪(EDS)进行形貌观察与元素分布分析。
  3. 透射电子显微镜(TEM):用于高分辨率晶体结构表征及选区电子衍射(SAED)。
  4. 拉曼光谱仪:通过分子振动光谱鉴别非晶态或复杂多相体系中的物相。
  5. 热分析仪(DSC/TGA):监测材料在温度变化下的相变、分解及结晶行为。

检测方法

  1. XRD分析法:采用粉末衍射法或薄膜掠入射法,通过比对国际标准PDF卡片库(如ICDD数据库)进行物相鉴定;Rietveld精修用于定量分析。
  2. 电子显微镜分析法:SEM通过二次电子成像观察表面形貌,TEM结合高角环形暗场像(HAADF)解析原子级结构;EDS/WDS实现元素面分布分析。
  3. 光谱分析法:拉曼光谱通过特征峰位移判断化学键类型及相变过程;红外光谱辅助分析官能团变化。
  4. 热分析法:差示扫描量热法(DSC)测定熔融、结晶等热事件,热重分析(TGA)关联质量变化与相分解行为。
  5. 综合分析法:联合XRD、SEM、热分析等多技术,结合数据交叉验证,解决复杂体系的多相共存问题。

分享

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。

检测须知

1、周期(一般实验需要7-15个工作日,加急一般是5个工作日左右,毒理实验以及降解实验周期可以咨询工程师)

2、费用(免费初检,初检完成以后根据客户的检测需求以及实验的复杂程度进行实验报价)

3、样品量(由于样品以及实验的不同,具体样品量建议先询问工程师)

4、标准(您可以推荐标准或者我们工程师为您推荐:国标、企标、国军标、非标、行标、国际标准等)

5、如果您想查看关于物相分析检测的报告模板,可以咨询工程师索要模板查看。

6、后期提供各种技术服务支持,完整的售后保障

以上是关于【物相分析检测】相关介绍,如果您还有其他疑问,可以咨询工程师提交您的需求,为您提供一对一解答。

荣誉资质

实验仪器