有限释放内置系统的泄露试验检测

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有限释放内置系统泄漏试验检测

检测范围

1. 系统边界：涵盖内置系统的密封部件、管道连接处、阀门、法兰接口及压力容器等关键部位。
2. 压力范围：在系统设计压力的50%~150%范围内进行泄漏测试，覆盖正常工作压力及极端工况。
3. 介质类型：适用于气体（如氮气、氦气）或液体（如水、液压油）介质条件下的泄漏检测。
4. 环境条件：温度范围-20℃~80℃，湿度≤85% RH，模拟实际运行环境。

检测项目

1. 泄漏率：测量单位时间内泄漏介质的体积或质量，评估泄漏程度。
2. 压力衰减量：监测系统压力随时间下降的速率，判断密封性能。
3. 密封性等级：依据ISO 15848、GB/T 13927等标准划分泄漏等级（如A级无泄漏、B级微泄漏）。
4. 气体浓度变化：通过示踪气体（如氦气）检测泄漏点的位置及浓度分布。
5. 温度影响分析：评估温度波动对密封材料膨胀/收缩及泄漏率的影响。

检测仪器

1. 氦质谱检漏仪（型号：HLD-3000）：用于高精度检测氦气泄漏率，灵敏度达1×10⁻⁹ Pa·m³/s。
2. 压力传感器（型号：PS-500）：量程0~10 MPa，精度±0.25% FS，实时记录压力变化。
3. 流量计（型号：FM-200）：测量泄漏介质流量，分辨率0.01 L/min。
4. 红外热像仪（型号：FLIR T540）：定位温度异常区域，辅助判断泄漏点。
5. 温度记录仪（型号：TR-72A）：监测环境及设备表面温度变化。

检测方法

1. 加压法：

   • 向系统内注入介质（气体或液体），加压至试验压力的1.5倍并保压10分钟。
   • 使用压力传感器记录初始压力，监测30分钟内压力衰减量，计算泄漏率。

2. 氦质谱检测法：

   • 向系统充注5%氦气混合气体，加压至设计压力。
   • 用氦质谱检漏仪对疑似泄漏点（如焊缝、法兰）进行扫描，检测氦气浓度峰值。

3. 流量法：

   • 封闭系统出口，通过流量计测量单位时间内泄漏介质的累积量，换算为泄漏速率。

4. 红外热成像辅助定位：

   • 在系统运行或加压状态下，用红外热像仪扫描表面温度分布，识别因介质泄漏导致的局部温度异常区域。

5. 温度循环测试：

   • 在-20℃~80℃范围内进行高低温循环试验，记录泄漏率变化，评估温度对密封性能的影响。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。