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静电放电敏感度 CS112检测
(CMA)
(ISO)
(高新技术企业)
检测样品
专用设备和分系统电子产品（静电敏感）军用设备和分系统集成电路电子元器件军用设备和分系统(EMS)船舶设备电子测试设备设备和分系统军用设备和分系统（EMS）电子装备和分系统航天系统半导体器件电子、电气、机电等设备和分系统(EMS)电子设备和分系统半导体集成电路舰船设备
实验周期
7-15个工作日，加急实验一般5个工作日
检测项目
静电放电敏感度 CS112静电放电敏感度分级 机械模型（MM）CS12静电放电敏感度静电放电敏感度测试/集成电路闩锁测试静电放电敏感度试验静电放电敏感度 CS112静电放电敏感度CS112静电放电敏感度 CS12静电放电敏感度分级 人体放电模型（HBM）静电放电敏感度的分级CS112 静电放电敏感度静电放电敏感度静电放电敏感度/人体模型静电放电敏感度测试/人体模型CS112静电放电敏感度静电放电敏感度测试/场感应器件放电模型
检测标准
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量 GJB151B-2013 5.15
半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 方法6002
舰船电磁兼容性要求 HJB34A-2007
集成电路闩锁测试 JEDEC JESD78E-2016
《半导体分立器件失效分析方法和程序》 GJB 3157-1998 方法3003
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量 GJB 151B-2013
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量 GJB 151B-2013 5.15
舰船电磁兼容性要求 HJB 34A-2007 10.12
半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009 方法6001
ESD委员会标准测试方法：元器件级静电放电敏感度测试—人体模型 ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2017
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法3015
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法3015
半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分：静电放电敏感度试验-机械模式（MM） IEC 60749-27(Ed 2.1 2012-09)
《军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量》 GJB 151B-2013 5.15.3
航天系统电磁兼容性要求 GJB 3590-1999
航天系统电磁兼容性要求 GJB3590-99 5
静电放电敏感度测试 人体模型 元器件级 JS-001:2014
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法3015
静电放电敏感度测试，人体模型（HBM）-元件级 ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2017
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法3015
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量 GJB151B-2013
静电放电敏感度测试，带电器件模型（CDM）-器件级 ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018
航天系统电磁兼容性要求 GJB 3590-1999 5.2.8
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量 GJB151B-2013 5.15
以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师
注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
检测须知
1、周期(一般实验需要7-15个工作日，加急一般是5个工作日左右，毒理实验以及降解实验周期可以咨询工程师)
2、费用(免费初检，初检完成以后根据客户的检测需求以及实验的复杂程度进行实验报价)
3、样品量(由于样品以及实验的不同，具体样品量建议先询问工程师)
4、标准(您可以推荐标准或者我们工程师为您推荐：国标、企标、国军标、非标、行标、国际标准等)
5、如果您想查看关于静电放电敏感度 CS112检测的报告模板，可以咨询工程师索要模板查看。
6、后期提供各种技术服务支持，完整的售后保障
以上是关于【静电放电敏感度 CS112检测】相关介绍，如果您还有其他疑问，可以咨询工程师提交您的需求，为您提供一对一解答。
荣誉资质
实验仪器
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