透射电子显微镜(TEM)

主要用途

透射电子显微镜是用于观察材料内部微观结构的高分辨分析仪器。广泛应用于材料科学、生物学、医学等领域，能够提供样品内部结构的高分辨率图像和晶体结构信息。

参数指标

点分辨率：0.19nm；线分辨率：0.1nm；加速电压：40-300kV；放大倍数：50-1500000倍；倾转角：±30°；样品台：冷冻杆、加热杆、拉伸杆等。

主要样品类型

适用于超薄样品分析，包括：金属薄膜、纳米颗粒、细胞组织、蛋白质分子、病毒、陶瓷薄膜、高分子薄膜、矿物薄片等。

主要实验项目

高分辨晶格成像、选区电子衍射、明场/暗场成像、STEM成像、元素分布分析(EDS/EELS)、晶体缺陷观察、界面结构分析、原子序数衬度成像、原位观察等。