一次颗粒粒径统计测试

(CMA)     (ISO) (高新技术企业)

信息概要

一次颗粒粒径统计测试是针对单个颗粒的尺寸分布进行分析的项目，广泛应用于材料科学、制药、环境监测等领域。该测试通过测量颗粒的直径或其他维度参数，评估产品的均匀性、稳定性和性能。检测的重要性在于确保产品质量、优化生产工艺，以及满足法规要求，例如在药物制剂中控制颗粒大小可影响溶解速率和生物利用度。

检测项目

平均粒径, 粒径分布宽度, D10值, D50值, D90值, 粒度累积分布, 粒度频率分布, 颗粒形状因子, 比表面积, 颗粒浓度, 粒径标准差, 粒径变异系数, 最大粒径, 最小粒径, 中位粒径, 模态粒径, 颗粒数量密度, 颗粒体积分布, 颗粒质量分布, 颗粒表面粗糙度

检测范围

金属粉末, 陶瓷颗粒, 药物颗粒, 纳米材料, 聚合物颗粒, 土壤颗粒, 空气颗粒物, 食品添加剂, 化妆品粉末, 颜料颗粒, 催化剂颗粒, 煤炭粉尘, 水泥颗粒, 塑料微珠, 生物颗粒, 矿物颗粒, 电子材料颗粒, 废水悬浮颗粒, 油漆颗粒, 纺织纤维颗粒

检测方法

激光衍射法：通过测量颗粒对激光的散射角度来确定粒径分布。

动态光散射法：利用颗粒在液体中的布朗运动分析粒径。

图像分析法：使用显微镜和图像处理软件直接测量颗粒尺寸。

沉降法：基于颗粒在重力或离心力下的沉降速度计算粒径。

库尔特计数器法：通过颗粒通过小孔时的电阻变化测量粒径。

电泳光散射法：结合电泳和光散射分析带电颗粒的粒径。

超声衰减法：利用超声波在颗粒悬浮液中的衰减特性评估粒径。

X射线沉降法：通过X射线检测颗粒沉降过程。

离心沉降法：使用离心机加速沉降以提高精度。

氮吸附法：测量比表面积间接推算粒径。

光阻法：基于颗粒阻挡光束的原理计数粒径。

显微镜计数法：手动或自动通过显微镜观察统计颗粒。

动态图像分析法：结合视频和图像处理实时分析颗粒。

光子相关光谱法：通过光强波动分析纳米颗粒粒径。

筛分法：使用标准筛网分离不同粒径的颗粒。

检测仪器

激光粒度分析仪, 动态光散射仪, 图像分析系统, 沉降天平, 库尔特计数器, 电泳光散射仪, 超声粒度分析仪, X射线沉降仪, 离心机, 比表面积分析仪, 光阻式颗粒计数器, 光学显微镜, 动态图像分析仪, 光子相关光谱仪, 标准筛组

一次颗粒粒径统计测试如何确保结果的准确性？通过使用校准标准品、重复测量和统计方法验证来最小化误差。

哪些行业最需要一次颗粒粒径统计测试？制药、材料科学和环境监测等行业依赖它来控制产品质量和合规性。

一次颗粒粒径统计测试的样品制备有哪些注意事项？需避免颗粒团聚、使用适当分散剂，并确保样品代表性以提高可靠性。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。