X射线衍射物相定量分析测试

(CMA)     (ISO) (高新技术企业)

信息概要

X射线衍射物相定量分析测试是一种基于X射线衍射原理，用于确定多相材料中各物相相对含量的分析技术。该测试通过测量样品衍射图谱中不同物相的衍射峰强度，结合标准参考数据或Rietveld精修方法，实现物相的定量计算。检测的重要性在于它能精确评估材料的组成、纯度、结晶度及相变行为，广泛应用于材料科学、地质学、制药和工业质量控制等领域，确保产品性能、安全性和合规性。

检测项目

物相含量百分比，结晶度，晶格参数，晶粒尺寸，微观应变，择优取向，无定形含量，相纯度，杂质相识别，定量误差分析，相分布均匀性，热稳定性，化学计量比，相变温度，衍射峰强度比，背景校正，峰形拟合，全谱拟合，样品制备误差，仪器校准偏差

检测范围

金属合金，陶瓷材料，聚合物，矿物岩石，药物晶体，催化剂，纳米材料，水泥制品，电子陶瓷，涂层薄膜，电池材料，半导体，土壤样品，化石标本，玻璃材料，复合材料，颜料粉末，地质沉积物，生物矿物，工业废渣

检测方法

Rietveld精修法：通过全谱拟合衍射数据，精确计算各物相含量和结构参数。

内标法：添加已知含量的标准物质，比较衍射峰强度进行定量。

外标法：使用外部标准曲线，基于单一物相衍射强度进行校准。

直接比较法：直接对比样品与纯相的衍射峰强度比。

绝热法：适用于无定形和结晶相混合物的定量分析。

峰面积积分法：测量特定衍射峰的面积来计算物相比例。

全谱模拟法：利用理论模型模拟整个衍射图谱。

化学计量法：结合元素分析数据辅助定量。

热重-衍射联用法：在加热过程中同步监测物相变化。

微区衍射法：针对局部区域进行高空间分辨率分析。

原位衍射法：在特定环境条件下实时检测物相演化。

同步辐射衍射法：利用高亮度光源提高检测灵敏度和精度。

粉末衍射法：标准方法，适用于粉末样品。

薄膜衍射法：优化用于薄膜或涂层样品的分析。

高分辨率衍射法：通过精细扫描获得更精确的峰位数据。

检测仪器

X射线衍射仪，测角仪，探测器，X射线管，样品台，单色器，准直器，脉冲高度分析器，冷却系统，真空系统，软件分析平台，校准标准品，光束整形器，衍射光学元件，温度附件

X射线衍射物相定量分析测试如何确保结果的准确性？该测试通过使用标准参考物质进行仪器校准、优化样品制备以减少误差、应用Rietveld精修等统计方法处理数据，并重复测量以评估重现性，从而保证准确性。

X射线衍射物相定量分析测试在制药行业有哪些应用？在制药中，它用于检测药物多晶型含量、评估原料药纯度、监控结晶过程稳定性，以及确保制剂中活性成分的均匀性，符合法规要求。

X射线衍射物相定量分析测试对样品有什么要求？样品通常需要为均匀粉末或平整固体，粒度适中以避免微吸收效应，且无强烈择优取向；对于特殊样品，可能需定制制备方法如压片或研磨。

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。