粒径分布检测

(CMA)     (ISO) (高新技术企业)

信息概要

粒径分布检测依据国家标准GB/T 19077-2016《粒度分析 激光衍射法》，该标准于2016年发布并实施，目前未废止。检测内容涵盖固体颗粒、粉体材料及悬浮液中颗粒的粒径分布特性分析，包括分布范围、中值粒径、均匀性等核心参数，适用于工业、环保、医药等领域质量控制与研发验证。

检测项目

D10值（10%累积分布粒径）, D50值（中位粒径）, D90值（90%累积分布粒径）, 体积平均粒径, 表面积平均粒径, 比表面积, 粒度分布宽度（Span值）, 分布均匀性（Uniformity）, 累积分布百分数, 模态粒径（峰值粒径）, 粒径分布曲线, 颗粒形状系数, 颗粒密度, 振实密度, 松散密度, 孔隙率, 流动性指数, 休止角, 团聚指数, 分散稳定性。

检测范围

粉末涂料, 陶瓷粉体, 金属粉末, 药品颗粒, 水泥及掺合料, 碳酸钙粉体, 颜料及染料颗粒, 纳米材料, 土壤颗粒, 矿物粉体, 塑料颗粒, 乳剂微球, 催化剂载体, 石墨烯分散液, 硅微粉, 农药颗粒, 食品添加剂, 磁性材料, 化妆品粉体, 工业粉尘。

检测方法

激光衍射法：通过激光散射原理测量颗粒群衍射角度，计算粒径分布。

动态光散射法：适用于纳米级颗粒，基于布朗运动引起的散射光波动分析粒径。

筛分法：使用标准筛网对颗粒进行分级筛分，计算质量分布。

沉降法：通过颗粒在液体中的沉降速度推算粒径。

电感应法（库尔特法）：利用颗粒通过微孔时的电阻变化计数并测量粒径。

图像分析法：通过显微镜或电镜图像处理直接统计颗粒尺寸与形状。

X射线衍射法：结合晶体衍射数据间接分析颗粒尺寸。

离心沉降法：通过离心加速沉降过程提高小颗粒检测分辨率。

超声波衰减法：基于超声波在悬浮液中的衰减特性反演粒径分布。

氮吸附法（BET）：测定比表面积并推导等效粒径。

动态图像分析：实时捕捉流动颗粒的形态与尺寸。

静态光散射法：测量多角度散射光强分布拟合粒径参数。

电镜扫描法（SEM）：高分辨率成像直接观察微观颗粒形貌。

透射电镜法（TEM）：适用于超细颗粒的二维尺寸与结构分析。

原子力显微镜法（AFM）：通过探针扫描获取纳米级颗粒表面形貌数据。

检测仪器

激光粒度分析仪, 动态光散射仪, 振动筛分机, 沉降粒度分析仪, 库尔特计数器, 扫描电子显微镜（SEM）, 透射电子显微镜（TEM）, 原子力显微镜（AFM）, X射线衍射仪（XRD）, 离心粒度分析仪, 超声波粒度分析仪, 氮吸附比表面积分析仪, 图像分析系统, 纳米粒度电位分析仪, 静态光散射仪。

检测标准

以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。