多模光纤总衰耗检测

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信息概要

多模光纤总衰耗检测依据国家标准GB/T 15972.20-2008《光纤试验方法规范 第20部分：尺寸参数的测量和试验方法-光纤总衰减》进行，该标准发布于2008年6月，目前仍为现行有效标准，未明确废止时间。检测涵盖光纤衰减系数、传输性能及环境适应性等核心指标，确保产品符合通信网络传输要求。

检测项目

波长范围,总衰减系数,带宽,数值孔径,芯径偏差,包层直径偏差,同心度误差,涂层直径,光纤翘曲度,温度循环衰减变化,湿热环境衰减稳定性,拉伸强度,弯曲损耗,抗冲击性能,动态疲劳参数,静态疲劳参数,宏弯损耗,微弯损耗,端面几何缺陷,回波损耗,偏振模色散,色散系数,材料均匀性,涂层附着力,抗化学腐蚀性

检测范围

OM1多模光纤,OM2多模光纤,OM3多模光纤,OM4多模光纤,OM5多模光纤,50/125μm渐变型光纤,62.5/125μm渐变型光纤,塑料包层石英光纤,全塑光纤,抗弯曲多模光纤,军用级多模光纤,室内布线光纤,室外铠装光纤,耐高温光纤,低烟无卤护套光纤,紧套光纤,松套光纤,带状光纤,紫外固化涂层光纤,医用灭菌光纤

检测方法

OTDR测试法：通过光时域反射仪分析光纤衰减分布及断点定位。

截断法：对比全长光纤与截断后短段的功率差计算总衰耗。

插入损耗法：利用光源和光功率计测量连接器或熔接点损耗。

光谱分析法：采用光谱分析仪评估不同波长下的衰减特性。

数值孔径测试法：通过远场光强分布测量光纤数值孔径。

端面干涉检测法：使用干涉显微镜分析光纤端面几何缺陷。

环境试验法：模拟高低温、湿热环境验证衰减稳定性。

弯曲损耗测试法：缠绕不同半径线圈测量宏弯敏感性。

拉伸试验法：施加轴向拉力评估机械强度与衰减变化关系。

涂层附着力测试：通过剥离实验量化涂层与光纤结合强度。

色散系数测量法：利用相位漂移技术计算模态色散值。

偏振模色散分析法：基于偏振态变化评估模式耦合效应。

化学腐蚀试验：浸泡特定试剂后检测光纤表面腐蚀程度。

动态疲劳测试：循环加载应力验证长期疲劳寿命。

回波损耗检测：通过反射光强度计算连接端面反射特性。

检测仪器

光时域反射仪,光谱分析仪,光纤熔接机,光功率计,稳定化光源,数值孔径测试仪,端面干涉仪,高低温试验箱,湿热试验箱,光纤拉伸试验机,弯曲损耗测试装置,涂层附着力测试仪,色散分析系统,偏振模色散测试仪,化学腐蚀试验槽

检测标准

以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。