光学薄膜原件检测

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信息概要

光学薄膜元件检测主要依据国家标准GB/T 26331-2010《光学薄膜元件通用技术条件》，该标准发布于2011年5月1日，现行有效未废止。检测内容涵盖光学性能、机械性能、环境适应性及耐久性等指标，确保产品满足光学设计、应用稳定性及使用寿命要求。

检测项目

透射率, 反射率, 折射率, 膜层厚度均匀性, 光谱特性, 表面粗糙度, 硬度, 附着力, 耐磨性, 抗划伤性, 耐腐蚀性, 耐高温性, 耐低温性, 湿热循环稳定性, 抗紫外老化性, 偏振特性, 散射损失, 吸收率, 应力分布, 膜层缺陷检测

检测范围

增透膜, 反射膜, 分光膜, 滤光片, 偏振膜, 保护膜, 导电膜, 防雾膜, 减反射膜, 高反膜, 低反膜, 激光薄膜, 红外薄膜, 紫外薄膜, 光学窗口片, 棱镜镀膜, 透镜镀膜, 滤光轮组件, 光纤端面镀膜, 微结构光学薄膜

检测方法

分光光度法：通过光谱分析仪测量透射和反射特性。

椭偏仪法：利用偏振光分析薄膜厚度及折射率。

干涉法：通过光学干涉条纹评估膜层均匀性。

原子力显微镜（AFM）：检测表面粗糙度及微观形貌。

划痕试验：量化膜层附着力及抗剥离性能。

摩擦磨损试验：模拟实际使用评估耐磨性。

湿热循环试验：验证膜层在高湿高温下的稳定性。

盐雾试验：测试耐腐蚀性能。

紫外加速老化试验：评估抗紫外辐射能力。

激光损伤阈值测试：测定膜层抗激光损伤强度。

X射线衍射（XRD）：分析薄膜晶体结构。

扫描电子显微镜（SEM）：观察膜层断面及缺陷。

纳米压痕法：测量薄膜硬度和弹性模量。

白光干涉仪：检测表面平整度及膜厚分布。

偏振光分析：表征偏振相关光学性能。

检测仪器

分光光度计, 椭偏仪, 激光干涉仪, 原子力显微镜, 划痕测试仪, 摩擦磨损试验机, 盐雾试验箱, 紫外老化箱, 激光损伤阈值测试系统, X射线衍射仪, 扫描电子显微镜, 纳米压痕仪, 白光干涉仪, 偏振分析仪, 高低温循环试验箱

注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。